코팅과 라이닝을 콘크리트 표면에 적절하게 결합하려면 적절한 청소가 필요하며 표면적을 늘리기 위해 콘크리트를 거칠게 해야 하는 경우가 많습니다. 표면 프로파일이라고도 하는 거칠기는 연마 블라스트 클리닝, 산 에칭 또는 다양한 충격/파괴 전동 공구를 통해 콘크리트에 부여할 수 있습니다. 결과적인 표면 프로파일 깊이는 코팅/라이닝 접착 력 및 성능에 영향을 미칠 수 있습니다. 코팅/라이닝 제조업체 및/또는 시설 소유자는 제품 설치 전에 콘크리트 표면의 청소 및 거칠기를 자주 지정합니다.
전통적으로 준비된 콘크리트의 표면 프로파일(거칠기)은 국제 콘크리트 보수 연구소(ICRI)에서 제작한 지침 번호 310.2R, 실러, 코팅, 폴리머 오버레이 및 콘크리트 보수를 위한 콘크리트 표면 준비 선택 및 지정에 설명된 것과 같은 콘크리트 표면 프로파일 ( CSP) 칩을 사용하여 육안으로 평가해 왔습니다. 이 가이드라인은 코팅 및 보수 적용을 위해 콘크리트 표면을 준비하는 데 사용되는 다양한 방법의 기능과 한계를 요약한 것입니다. 칩은 콘크리트 거칠기를 평가하는 가장 널리 알려져 있고 자주 사용되는 방법이지만, 이 방법은 정성적이며 개별 검사자의 판단이 필요합니다.
최근에는 PosiTector SPG TS와 같은 디지털 옵션을 통해 검사자가 ASTM D8271에 따라 디지털 정량적 방법을 사용하여 콘크리트 표면 프로파일을 측정할 수 있게 되었습니다. 이 방법은 상당한 이점이 있지만, 이전에는 콘크리트 표면 마감과 가장 유사한 칩 번호가 보고되는 CSP 칩 방법과 밀 단위의 프로파일이 보고되는 디지털 깊이 마이크로미터 방법 간의 상호 참조가 어려워 채택이 제한적이었습니다.
그러나 Beamish와 Corbett(2022)1의 최근 논문에서 두 방법을 서로 바꿔서 사용할 수 있도록 상호 참조 테이블을 만드는 연구가 수행되었습니다. 해당 테이블을 만드는 데 사용되는 절차에 대한 자세한 내용은 이 문서의 부록 A에 나와 있습니다.
ICRI 칩은 산성 에칭, 연삭, 샷 블라스팅, 연마 블라스팅 및 스카리피케이션과 같은 다양한 콘크리트 표면 처리 방법을 나타내는 다양한 표면 거칠기 정도를 가진 10개 세트로 제공됩니다. 이 칩은 표면 거칠기 정도를 식별하기 위한 시각 및 촉각 비교기로 설계되었습니다. 사용자는 준비된 콘크리트를 CSP 칩과 비교하여 표면과 가장 유사한 칩 번호를 보고합니다. 많은 작업에서 필요한 표면 준비 유형을 지정합니다.
ICRI CSP 칩은 약 16평방인치(3.5" x 4.5")이며 표 1과 같이 10개의 표면 프로파일을 복제하도록 설계되었습니다.
ASTM D8271, 준비된 콘크리트의 표면 프로파일 직접 측정을 위한 Standard 테스트 방법에서는 다음과 같은 전자식 깊이 마이크로미터를 사용하여 준비된 콘크리트에서 직접 측정값을 획득하는 대체 절차를 설명합니다. PosiTector SPG TS. 이 기기는 평평한 바닥과 스프링이 장착된 팁이 있어 표면 프로파일의 골짜기로 떨어집니다.
PosiTector SPG TS 게이지의 평평한 베이스는 가장 높은 피크에 놓여 있으며 각 측정값은 가장 높은 로컬 피크와 팁이 투영된 특정 골짜기 사이의 거리입니다. 이 유형의 기기는 복제 퍼티나 시각적 비교기의 모호함 없이 표면에서 직접 최대 6mm의 프로파일 높이를 측정하는 데 이상적입니다. 블라스팅, 스카리파잉, 그라인딩, 산성 에칭 및 기타 준비 방법으로 준비된 콘크리트의 표면 프로파일을 측정하는 데 이상적입니다.
정성적 육안 비교기와 달리 ASTM D8271은 정량적이지만 아직 널리 규정되어 있지 않습니다. 이 연구는 10개의 ICRI CSP 칩CSP 1-7) 중 7개의 견고한 에폭시 주조 복제품과 PosiTector SPG TS 디지털 깊이 마이크로미터를 활용한 ASTM D8271 방법을 사용하여 수행되었습니다.
아래 표시된 조회 표를 통해 지정자는 정성적 평가(예g ICRI CSP 1-7)를 콘크리트 표면 프로파일의 정량적 범위로 쉽게 변환할 수 있습니다. 범위는 이 연구 기간 동안 연구된 CSP 1-7에 대해서만 표시되며 값은 반올림되었습니다. 허용 오차는 standard 편차 데이터를 기반으로 설정되었습니다.
주관적인 육안 평가와 달리 디지털 PosiTector SPG TS 콘크리트 표면 프로파일 게이지는 거칠기 측정 분야에서 실제 정량적 분석을 제공합니다. 사용이 간편한 PosiTector SPG 분당 50회 이상의 빠른 측정 속도와 기록 보관, 검토 및 추가 분석을 위해 다른 사용자와 공유할 수 있는 온보드 메모리를 제공합니다.
평균, standard 편차, 최소/최대 프로파일 깊이를 표시하는 강력한 통계 모드가 특징인 미국산 PosiTector SPG 넓은 표면을 빠르고 정확하게 분석하는 데 이상적입니다. HiLo 알람은 측정값이 사용자가 지정한 한계를 초과하면 청각적, 시각적으로 알려줍니다. 내구성이 뛰어난 알루미나 마모면과 텅스텐 카바이드 프로브 팁을 갖춘 PosiTector SPG 긴 수명과 지속적인 정확도를 위해 제작되었습니다.
콘크리트 표면 프로파일 사양에 대한 적합성을 결정하기 위해 AMPP Standard 관행 SP21513, 콘크리트 표면 프로파일 요구사항에 대한 적합성 결정 절차에서는 측정할 위치와 측정 횟수를 설명하고 부적합 영역을 식별하는 방법에 대한 지침을 제공합니다. 이 standard ASTM D8271에 설명된 방법 1: 깊이 마이크로미터와 ICRI 지침 번호 310.2R에 설명된 방법 2: 콘크리트 표면 프로파일CSP) 칩CSP 1-10)을 사용하여 콘크리트 기판의 지정된 표면 프로파일 적합성을 결정하는 실험실 및 현장 사용에 적합한 절차에 대해 설명합니다.
연구 설계는 처음에 지정자가 정성적 표면 프로파일 평가 기술에서 정량적 범위로 전환할 수 있도록 특별히 선택된 방법론으로 구성되었습니다.
ICRI CSP 칩은 회색의 유연한 고무 재질로 만들어져 대부분의 응용 분야에는 적합하지만 이 연구에서는 문제가 있었습니다. 이 CSP 칩의 표면 프로파일을 측정하는 데 사용하려는 디지털 깊이 마이크로미터의 프로브에는 유연한 고무를 관통하여 잘못된 높은 값을 생성하는 스테인리스 스틸 스프링이 장착된 60° 원뿔 모양의 포인트가 포함되어 있습니다. 따라서 CSP 1-7의 실리콘 몰드를 만들고 각 몰드에 검은색 에폭시를 주조하여 마이크로미터 프로브와 압력의 영향을 받지 않는 경화된 에폭시로 CSP 1-7의 정확한 복제품을 효과적으로 만들었습니다.
에폭시가 완전히 경화되면 6명의 기술자(독립적으로)가 최대 250밀리미터 범위의 PosiTector SPG TS 디지털 깊이 현미경 (게이지, 그림 6)을 사용하여 CSP 1-7 복제본에서 각각 15개씩 3개의 하위 배치를 측정한 후 후속 분석을 위해 게이지 메모리에 저장했습니다.
모든 경우에 에폭시 퍼티 복제본(간접 측정 방법)은 직접 측정 방법(즉, CSP 칩에서 직접 측정)보다 표면 프로파일 높이가 더 컸고 데이터의 standard 편차도 더 컸습니다.
표 2에는 결과가 포함되어 있습니다. 그래프 2는 데이터를 보여줍니다.
코팅과 라이닝을 콘크리트 표면에 적절하게 결합하려면 적절한 청소가 필요하며 표면적을 늘리기 위해 콘크리트를 거칠게 해야 하는 경우가 많습니다. 표면 프로파일이라고도 하는 거칠기는 연마 블라스트 클리닝, 산 에칭 또는 다양한 충격/파괴 전동 공구를 통해 콘크리트에 부여할 수 있습니다. 결과적인 표면 프로파일 깊이는 코팅/라이닝 접착력 및 성능에 영향을 미칠 수 있습니다. 코팅/라이닝 제조업체 및/또는 시설 소유자는 제품 설치 전에 콘크리트 표면의 청소 및 거칠기를 자주 지정합니다.
콘크리트 거칠기를 평가하는 방법 중 가장 널리 알려져 있고 가장 자주 사용되는 방법은 ICRI에서 생산한 CSP 칩이지만, 이는 정성적이며 어느 정도 판단이 필요합니다. ASTM D8271에 설명된 절차는 정량적이지만 이 글을 쓰는 at 널리 지정되어 있지 않습니다.
이 연구에서는 알려진 표면(예: ICRI CSP 패널)에서 직접 측정하는 것과 동일한 알려진 표면의 에폭시 퍼티 주조에서 간접 측정하는 것에는 차이가 있다는 사실이 밝혀졌습니다. 따라서 계약 문서에서 정량적 방법을 호출할 때 어떤 방법을 사용할지 지정자가 명시하는 것이 중요합니다(ASTM D8271).
조회 표를 사용하면 지정자가 정성적 방법을 콘크리트 표면 프로파일의 정량적 범위로 쉽게 변환할 수 있습니다. 범위는 이 연구 기간 동안 연구된 CSP 1~7에 대해서만 표시되어 있습니다. 값은 반올림되었습니다. 또한 콘크리트에서 직접 측정이 가능하기 때문에 콘크리트 거칠기를 영구적으로 기록하려는 경우가 아니라면 에폭시 퍼티를 사용하여 콘크리트 표면의 복제본을 생성한 다음 마이크로미터를 사용하여 측정하는 것은 거의 의미가 없습니다.
1 Beamish M. & Corbett, W, 정성적 표면 프로파일 평가 방법을 준비된 콘크리트의 정량적 방법론과 연관시킵니다. AMPP 컨퍼런스 2022, 텍사스주 샌안토니오.
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